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SN74LVTH182512DGGR
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Artikelnummer
SN74LVTH182512DGGR
Hersteller/Marke
Serie
74LVTH
Teilestatus
Active
Verpackung
Tape & Reel (TR)
Betriebstemperatur
-40°C ~ 85°C
Befestigungsart
Surface Mount
Paket/Koffer
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Gerätepaket des Lieferanten
64-TSSOP
Versorgungsspannung
2.7 V ~ 3.6 V
Anzahl der Bits
18
Logiktyp
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
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